液晶顯示驅動半導體 (CP、FT) 探針卡提供先進的製造技術及能力，針對客戶高針數、高頻率、超小間距、高低溫及 Multi-DUT 等測試需求提供完整的解決方案，並達到高測試數/低保養週期的測試要求。